納米級角度國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制成功
科技日報(bào)北京10月8日電 (記者付麗麗)8日,記者從國家市場監(jiān)管總局獲悉,該局近日新批準(zhǔn)二維鉻納米柵格標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、二維硅納米柵格標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、一維硅納米光柵標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)3項(xiàng)國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),這些物質(zhì)能夠同時(shí)滿足納米制造產(chǎn)業(yè)角度和長度校準(zhǔn)需求,為新一代信息技術(shù)、新材料、生物制造、高端裝備等領(lǐng)域的納米制造提供精準(zhǔn)“標(biāo)尺”。
據(jù)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制單位同濟(jì)大學(xué)相關(guān)專家介紹,研制高精度納米級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),是打造高準(zhǔn)確度納米測量傳遞鏈、提升國產(chǎn)納米制造產(chǎn)品質(zhì)量可靠性的關(guān)鍵。二維鉻納米柵格標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)突破性地采用分步沉積原子光刻技術(shù),制備難度較大,可直接溯源到自然界量子化物理常數(shù)(鉻原子躍遷頻率),角度絕對準(zhǔn)確性在0.001°量級,相當(dāng)于把一個(gè)蛋糕按扇形均分成36萬份;二維鉻納米柵格的結(jié)構(gòu)面積一般為300μm(微米)×300μm(微米),在沒有劃傷或破壞的狀況下,每次使用2μm(微米)×2μm(微米),不重復(fù)使用測量區(qū)域次數(shù)可達(dá)20000次以上。其可應(yīng)用于晶圓級原子力顯微鏡、掃描電子顯微鏡等集成電路微納檢測設(shè)備校準(zhǔn),也可應(yīng)用于對超精密位移傳感器多種參數(shù)的光柵干涉法校準(zhǔn)。
納米級角度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制成功,實(shí)現(xiàn)了納米測量領(lǐng)域的扁平化計(jì)量,可通過在線校準(zhǔn)直接將高精度計(jì)量數(shù)據(jù)傳遞到企業(yè)計(jì)量現(xiàn)場,避免傳統(tǒng)逐級量值傳遞方式造成的誤差累積放大,將為我國納米制造產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展提供有力支撐。
據(jù)了解,國家市場監(jiān)管總局將持續(xù)強(qiáng)化納米測量領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制應(yīng)用,進(jìn)一步解決納米制造“測不了、測不全、測不準(zhǔn)”問題,為筑牢新興產(chǎn)業(yè)和未來產(chǎn)業(yè)技術(shù)基礎(chǔ)提供支撐保障。